Polarity determination of wurtzite-type crystals using hard x-ray photoelectron diffraction
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F11%3A10108221" target="_blank" >RIV/00216208:11320/11:10108221 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2011.04.036" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2011.04.036</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2011.04.036" target="_blank" >10.1016/j.susc.2011.04.036</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Polarity determination of wurtzite-type crystals using hard x-ray photoelectron diffraction
Popis výsledku v původním jazyce
The surface structure of a single-crystal ZnO wafer was studied by angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS) using synchrotron radiation. As a result, well-defined x-ray photoelectron diffraction (XPD) patterns were obtained for the (0001)and (000 (1) over bar) polar surfaces using the photoemission from the Zn 2p(3/2) and 0 1s core levels. The XPD patterns were indexed assuming forward scattering of photoelectrons by neighboring ions. Further, the XPD patterns for the (0001) and (000 (1)over bar) surfaces were different from each other, indicating the possibility for using the XPD technique for polarity determination. (C) 2011 Elsevier B.V. All rights reserved.
Název v anglickém jazyce
Polarity determination of wurtzite-type crystals using hard x-ray photoelectron diffraction
Popis výsledku anglicky
The surface structure of a single-crystal ZnO wafer was studied by angle-resolved x-ray photoelectron spectroscopy (ARXPS) using synchrotron radiation. As a result, well-defined x-ray photoelectron diffraction (XPD) patterns were obtained for the (0001)and (000 (1) over bar) polar surfaces using the photoemission from the Zn 2p(3/2) and 0 1s core levels. The XPD patterns were indexed assuming forward scattering of photoelectrons by neighboring ions. Further, the XPD patterns for the (0001) and (000 (1)over bar) surfaces were different from each other, indicating the possibility for using the XPD technique for polarity determination. (C) 2011 Elsevier B.V. All rights reserved.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GD202%2F09%2FH041" target="_blank" >GD202/09/H041: Fyzika nanostruktur</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface Science
ISSN
0039-6028
e-ISSN
—
Svazek periodika
605
Číslo periodika v rámci svazku
13
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
1336-1340
Kód UT WoS článku
000291905400035
EID výsledku v databázi Scopus
—