Observation and simulation of hard x ray photoelectron diffraction to determine polarity of polycrystalline zinc oxide films with rotation domains

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F12%3A10130583" target="_blank" >RIV/00216208:11320/12:10130583 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3682088" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.3682088</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3682088" target="_blank" >10.1063/1.3682088</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Observation and simulation of hard x ray photoelectron diffraction to determine polarity of polycrystalline zinc oxide films with rotation domains

Popis výsledku v původním jazyce

X ray photoelectron diffraction (XPD) patterns of polar zinc oxide (ZnO) surfaces were investigated experimentally using hard x rays and monochromatized Cr K alpha radiation and theoretically using a cluster model approach and a dynamical Bloch wave approach. We focused on photoelectrons emitted from the Zn 2p(3/2) and O 1s orbitals in the analysis. The obtained XPD patterns for the (0001) and (000 (1) over bar) surfaces of a ZnO single crystal were distinct for a given emitter and polarity. Polarity determination of c-axis-textured polycrystalline ZnO thin films was also achieved with the concept of XPD, even though the in-plane orientation of the columnar ZnO grains was random. (C) 2012 American Institute of Physics. [doi:10.1063/1.3682088]

Název v anglickém jazyce

Observation and simulation of hard x ray photoelectron diffraction to determine polarity of polycrystalline zinc oxide films with rotation domains

Popis výsledku anglicky

X ray photoelectron diffraction (XPD) patterns of polar zinc oxide (ZnO) surfaces were investigated experimentally using hard x rays and monochromatized Cr K alpha radiation and theoretically using a cluster model approach and a dynamical Bloch wave approach. We focused on photoelectrons emitted from the Zn 2p(3/2) and O 1s orbitals in the analysis. The obtained XPD patterns for the (0001) and (000 (1) over bar) surfaces of a ZnO single crystal were distinct for a given emitter and polarity. Polarity determination of c-axis-textured polycrystalline ZnO thin films was also achieved with the concept of XPD, even though the in-plane orientation of the columnar ZnO grains was random. (C) 2012 American Institute of Physics. [doi:10.1063/1.3682088]

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GD202%2F09%2FH041" target="_blank" >GD202/09/H041: Fyzika nanostruktur</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

111

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000301029800041

EID výsledku v databázi Scopus

—