Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Closely spaced SiGe barns as stressor structures for strain-enhancement in silicon

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10133654" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10133654 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4789507" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4789507</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4789507" target="_blank" >10.1063/1.4789507</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Closely spaced SiGe barns as stressor structures for strain-enhancement in silicon

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present tensile and compressive strains realized within the same Si capping layer on an array of SiGe islands grown on pit-patterned (001) Si substrates. The strain distributions are obtained from synchrotron X-ray diffraction studies in combination with three-dimensional finite element calculations and simulations of the diffracted intensities. For barn-shaped islands grown at 720 degrees C with average Ge contents of 30%, the Si cap layer is misfit-and threading-dislocation free and exhibits compressive strains as high as 0.8% in positions between the islands and tensile strains of up to 1% on top of the islands.

  • Název v anglickém jazyce

    Closely spaced SiGe barns as stressor structures for strain-enhancement in silicon

  • Popis výsledku anglicky

    We present tensile and compressive strains realized within the same Si capping layer on an array of SiGe islands grown on pit-patterned (001) Si substrates. The strain distributions are obtained from synchrotron X-ray diffraction studies in combination with three-dimensional finite element calculations and simulations of the diffracted intensities. For barn-shaped islands grown at 720 degrees C with average Ge contents of 30%, the Si cap layer is misfit-and threading-dislocation free and exhibits compressive strains as high as 0.8% in positions between the islands and tensile strains of up to 1% on top of the islands.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics Letters

  • ISSN

    0003-6951

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    102

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000314032600053

  • EID výsledku v databázi Scopus