Analytical analysis of a multilayer structure with ultrathin Fe film for magneto-optical sensing

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10189731" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10189731 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.opticsinfobase.org/oe/abstract.cfm?URI=oe-21-3-3400" target="_blank" >http://www.opticsinfobase.org/oe/abstract.cfm?URI=oe-21-3-3400</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.21.003400" target="_blank" >10.1364/OE.21.003400</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Analytical analysis of a multilayer structure with ultrathin Fe film for magneto-optical sensing

Popis výsledku v původním jazyce

Magneto-optic (MO) response in nanostructures with ultrathin Fe considered for the MO mapping of current pulses with a two-dimensional diffraction limited resolution is investigated in detail. The structures consist of an ultrathin Fe layer sandwiched with dielectric layers, deposited on a reflector and covered by a noble metal protecting layer. The structures are modeled as five-layer systems with abrupt interfaces. Analytical expressions are provided that are useful in the search for the maximum of MOreflected wave amplitude polarized perpendicular to the incident linearly polarized wave, vertical bar r(yx)((05))vertical bar. The procedure of finding the maximal vertical bar r(yx)((05))vertical bar is illustrated on the structures with ultrathin Feat the laser wavelength of 632.8 nm. The maximal vertical bar r(yx)((05))vertical bar of 0.018347 was achieved in the structure AlN(52 nm)/Fe(15 nm)/AlN(26 nm)/Au. The deposition of a 5 nm protecting Au layer reduced vertical bar r(yx)((0

Název v anglickém jazyce

Analytical analysis of a multilayer structure with ultrathin Fe film for magneto-optical sensing

Popis výsledku anglicky

Magneto-optic (MO) response in nanostructures with ultrathin Fe considered for the MO mapping of current pulses with a two-dimensional diffraction limited resolution is investigated in detail. The structures consist of an ultrathin Fe layer sandwiched with dielectric layers, deposited on a reflector and covered by a noble metal protecting layer. The structures are modeled as five-layer systems with abrupt interfaces. Analytical expressions are provided that are useful in the search for the maximum of MOreflected wave amplitude polarized perpendicular to the incident linearly polarized wave, vertical bar r(yx)((05))vertical bar. The procedure of finding the maximal vertical bar r(yx)((05))vertical bar is illustrated on the structures with ultrathin Feat the laser wavelength of 632.8 nm. The maximal vertical bar r(yx)((05))vertical bar of 0.018347 was achieved in the structure AlN(52 nm)/Fe(15 nm)/AlN(26 nm)/Au. The deposition of a 5 nm protecting Au layer reduced vertical bar r(yx)((0

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME09045" target="_blank" >ME09045: Magnetické nanostruktury pro optické snímání vysokofrekvenčních polí</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Express

ISSN

1094-4087

e-ISSN

—

Svazek periodika

21

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

17

Strana od-do

3400-3416

Kód UT WoS článku

000315991400090

EID výsledku v databázi Scopus

—