Observation of individual stacking faults in GaN microcrystals by x-ray nanodiffraction
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F17%3A10363418" target="_blank" >RIV/00216208:11320/17:10363418 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4978870" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4978870</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4978870" target="_blank" >10.1063/1.4978870</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Observation of individual stacking faults in GaN microcrystals by x-ray nanodiffraction
Popis výsledku v původním jazyce
X-ray nanodiffraction was used for the investigation of basal stacking faults in a-GaN microcrystallites. The method made it possible to find the positions of individual stacking faults in a chosen crystallite, and the resulting positions were compared with the observation of individual faults by electron channeling contrast in scanning electron microscopy. The x-ray diffraction data revealed that the faults occur in closely positioned pairs; the stacking faults in a pair have opposite displacement vectors. Published by AIP Publishing.
Název v anglickém jazyce
Observation of individual stacking faults in GaN microcrystals by x-ray nanodiffraction
Popis výsledku anglicky
X-ray nanodiffraction was used for the investigation of basal stacking faults in a-GaN microcrystallites. The method made it possible to find the positions of individual stacking faults in a chosen crystallite, and the resulting positions were compared with the observation of individual faults by electron channeling contrast in scanning electron microscopy. The x-ray diffraction data revealed that the faults occur in closely positioned pairs; the stacking faults in a pair have opposite displacement vectors. Published by AIP Publishing.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
110
Číslo periodika v rámci svazku
12
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000397872000017
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85016138619