Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F20%3A10417436" target="_blank" >RIV/00216208:11320/20:10417436 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=15UT3xXvbZ" target="_blank" >https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=15UT3xXvbZ</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.3390/app10072354" target="_blank" >10.3390/app10072354</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC
Popis výsledku v původním jazyce
We measured a 2D peak line shape of epitaxial graphene grown on SiC in high vacuum, argon and graphene prepared by hydrogen intercalation from the so called buffer layer on a silicon face of SiC. We fitted the 2D peaks by Lorentzian and Voigt line shapes. The detailed analysis revealed that the Voigt line shape describes the 2D peak line shape better. We have determined the contribution of the homogeneous and inhomogeneous broadening. The homogeneous broadening is attributed to the intrinsic lifetime. Although the inhomogeneous broadening can be attributed to the spatial variations of the charge density, strain and overgrown graphene ribbons on the sub-micrometer length scales, we found dominant contribution of the strain fluctuations. The quasi free-standing graphene grown by hydrogen intercalation is shown to have the narrowest linewidth due to both homogeneous and inhomogeneous broadening.
Název v anglickém jazyce
Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC
Popis výsledku anglicky
We measured a 2D peak line shape of epitaxial graphene grown on SiC in high vacuum, argon and graphene prepared by hydrogen intercalation from the so called buffer layer on a silicon face of SiC. We fitted the 2D peaks by Lorentzian and Voigt line shapes. The detailed analysis revealed that the Voigt line shape describes the 2D peak line shape better. We have determined the contribution of the homogeneous and inhomogeneous broadening. The homogeneous broadening is attributed to the intrinsic lifetime. Although the inhomogeneous broadening can be attributed to the spatial variations of the charge density, strain and overgrown graphene ribbons on the sub-micrometer length scales, we found dominant contribution of the strain fluctuations. The quasi free-standing graphene grown by hydrogen intercalation is shown to have the narrowest linewidth due to both homogeneous and inhomogeneous broadening.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Sciences
ISSN
2076-3417
e-ISSN
—
Svazek periodika
10
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
2354
Kód UT WoS článku
000533356200153
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85083560197