Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F20%3A10417436" target="_blank" >RIV/00216208:11320/20:10417436 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=15UT3xXvbZ" target="_blank" >https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=15UT3xXvbZ</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.3390/app10072354" target="_blank" >10.3390/app10072354</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We measured a 2D peak line shape of epitaxial graphene grown on SiC in high vacuum, argon and graphene prepared by hydrogen intercalation from the so called buffer layer on a silicon face of SiC. We fitted the 2D peaks by Lorentzian and Voigt line shapes. The detailed analysis revealed that the Voigt line shape describes the 2D peak line shape better. We have determined the contribution of the homogeneous and inhomogeneous broadening. The homogeneous broadening is attributed to the intrinsic lifetime. Although the inhomogeneous broadening can be attributed to the spatial variations of the charge density, strain and overgrown graphene ribbons on the sub-micrometer length scales, we found dominant contribution of the strain fluctuations. The quasi free-standing graphene grown by hydrogen intercalation is shown to have the narrowest linewidth due to both homogeneous and inhomogeneous broadening.

  • Název v anglickém jazyce

    Raman 2D Peak Line Shape in Epigraphene on SiC

  • Popis výsledku anglicky

    We measured a 2D peak line shape of epitaxial graphene grown on SiC in high vacuum, argon and graphene prepared by hydrogen intercalation from the so called buffer layer on a silicon face of SiC. We fitted the 2D peaks by Lorentzian and Voigt line shapes. The detailed analysis revealed that the Voigt line shape describes the 2D peak line shape better. We have determined the contribution of the homogeneous and inhomogeneous broadening. The homogeneous broadening is attributed to the intrinsic lifetime. Although the inhomogeneous broadening can be attributed to the spatial variations of the charge density, strain and overgrown graphene ribbons on the sub-micrometer length scales, we found dominant contribution of the strain fluctuations. The quasi free-standing graphene grown by hydrogen intercalation is shown to have the narrowest linewidth due to both homogeneous and inhomogeneous broadening.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Sciences

  • ISSN

    2076-3417

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    10

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    12

  • Strana od-do

    2354

  • Kód UT WoS článku

    000533356200153

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85083560197