Optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films with the wavelengths related to extrema in spectral reflectances

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F01%3A00004763" target="_blank" >RIV/00216224:14310/01:00004763 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26210/01:PU21437

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films with the wavelengths related to extrema in spectral reflectances

Popis výsledku v původním jazyce

In this contribution a new efficient modification of a method that enables us to perform the optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films without using the absolute values of the reflectances measured is presented. Namely, this modification is based on determining the values of the wavelengths corresponding to touching the spectral dependences of the reflectances of the studied films measured for several angles of incidence with the envelopes of maxima and minima of these spectral dependences. By means of combining the explicit formulas containing the wavelengths mentioned and the suitable iteration procedure one can evaluate the values of the thicknesses and spectral dependences of the refractive indices of the films analyzed in reliable and precise ways.

Název v anglickém jazyce

Optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films with the wavelengths related to extrema in spectral reflectances

Popis výsledku anglicky

In this contribution a new efficient modification of a method that enables us to perform the optical characterization of nonabsorbing and weakly absorbing thin films without using the absolute values of the reflectances measured is presented. Namely, this modification is based on determining the values of the wavelengths corresponding to touching the spectral dependences of the reflectances of the studied films measured for several angles of incidence with the envelopes of maxima and minima of these spectral dependences. By means of combining the explicit formulas containing the wavelengths mentioned and the suitable iteration procedure one can evaluate the values of the thicknesses and spectral dependences of the refractive indices of the films analyzed in reliable and precise ways.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Optics

ISSN

0003-6935

e-ISSN

—

Svazek periodika

40

Číslo periodika v rámci svazku

31

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

5711

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—