Optické vlastnosti vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010693" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00010693 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00177016:_____/04:#0000335

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper, the optical properties of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs single crystal substrates are studied using the combined optical method employing a simultaneous interpretation of experimental data obtained by means of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and near-normal spectroscopic rellectometry (NNSR). The spectral dependences of both the optical constants, i.e. the refractive index and extinction coefficient, characterizing these films are presented within the spectral region 230-850 nm. It is shown that the optical properties of the ZnTe epitaxial films depend on the values of their thickness. This conclusion was found using the model of the optical constants exhibiting a profile across these films. A roughness of the upper boundaries of the ZnTe films and the existence of a very thin native oxide layer (NOL) on these boundaries are taken into account within the optical analysis.

Název v anglickém jazyce

Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

Popis výsledku anglicky

In this paper, the optical properties of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs single crystal substrates are studied using the combined optical method employing a simultaneous interpretation of experimental data obtained by means of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and near-normal spectroscopic rellectometry (NNSR). The spectral dependences of both the optical constants, i.e. the refractive index and extinction coefficient, characterizing these films are presented within the spectral region 230-850 nm. It is shown that the optical properties of the ZnTe epitaxial films depend on the values of their thickness. This conclusion was found using the model of the optical constants exhibiting a profile across these films. A roughness of the upper boundaries of the ZnTe films and the existence of a very thin native oxide layer (NOL) on these boundaries are taken into account within the optical analysis.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA202%2F01%2F1110" target="_blank" >GA202/01/1110: Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

468

Číslo periodika v rámci svazku

1-2

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

193-202

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—