Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Optická charakterizace dvojvrstev obsahující eptaxní ZnSe a ZnTe vrstvy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00013026" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00013026 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper results of the optical characterisation of double layers consisting of ZnTe and ZnSe thin films prepared by molecular beam epitaxy onto GaAs single crystal substrates are presented. For this optical characterisation the optical method basedon combining variable angle spectroscopic ellipsometry and near-normal spectroscopic reflectometry is used in multi-sample modification applied within the spectral region 230-850 nm. Using this method the spectral dependences of the optical constants ofthe upper ZnTe thin films are determined within the spectral region mentioned above. Spectral dependences of the optical constants of the lower ZnSe thin films were determined within the spectral region 450-850 nm. Boundary roughness of these double layers and overlayers is respected. RMS values of the heights of the irregularities of the boundaries and thicknesses and optical constants of the overlayers are determined by means of the combined optical method as well. The uppermost bound

  • Název v anglickém jazyce

    Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper results of the optical characterisation of double layers consisting of ZnTe and ZnSe thin films prepared by molecular beam epitaxy onto GaAs single crystal substrates are presented. For this optical characterisation the optical method basedon combining variable angle spectroscopic ellipsometry and near-normal spectroscopic reflectometry is used in multi-sample modification applied within the spectral region 230-850 nm. Using this method the spectral dependences of the optical constants ofthe upper ZnTe thin films are determined within the spectral region mentioned above. Spectral dependences of the optical constants of the lower ZnSe thin films were determined within the spectral region 450-850 nm. Boundary roughness of these double layers and overlayers is respected. RMS values of the heights of the irregularities of the boundaries and thicknesses and optical constants of the overlayers are determined by means of the combined optical method as well. The uppermost bound

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA101%2F01%2F1104" target="_blank" >GA101/01/1104: Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Modern Optics

  • ISSN

    0950-0340

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    52

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    20

  • Strana od-do

    583-602

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus