Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Harmonic analysis of discharge voltages as a tool to control the RF sputtering deposition process

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F09%3A00029226" target="_blank" >RIV/00216224:14310/09:00029226 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Harmonic analysis of discharge voltages as a tool to control the RF sputtering deposition process

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The reactive magnetron sputtering deposition process controlled by the flow of the reactive gas exhibits processing stability problems. Since the optimal experimental conditions lie very close to the abrupt transition from the metallic to the compound mode, the range at which the films with the right stoichiometry are deposited at high deposition rates is strongly limited and permanent process monitoring is necessary. A sensitive method for the process monitoring is proposed which is based on the measurement of amplitudes of fundamental or higher harmonic frequencies of discharge voltages during the radio-frequency sputtering deposition process. The voltage waveform recorded by the uncompensated probe placed in the vicinity of the plasma contains muchhigher relative proportion of higher harmonics than the waveform measured on the cathode. Some of the harmonics are extremely sensitive markers of the transition between the two regimes of interest.

  • Název v anglickém jazyce

    Harmonic analysis of discharge voltages as a tool to control the RF sputtering deposition process

  • Popis výsledku anglicky

    The reactive magnetron sputtering deposition process controlled by the flow of the reactive gas exhibits processing stability problems. Since the optimal experimental conditions lie very close to the abrupt transition from the metallic to the compound mode, the range at which the films with the right stoichiometry are deposited at high deposition rates is strongly limited and permanent process monitoring is necessary. A sensitive method for the process monitoring is proposed which is based on the measurement of amplitudes of fundamental or higher harmonic frequencies of discharge voltages during the radio-frequency sputtering deposition process. The voltage waveform recorded by the uncompensated probe placed in the vicinity of the plasma contains muchhigher relative proportion of higher harmonics than the waveform measured on the cathode. Some of the harmonics are extremely sensitive markers of the transition between the two regimes of interest.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GP202%2F08%2FP038" target="_blank" >GP202/08/P038: Studium chování hybridního depozičního procesu a jeho využití pro přípravu tenkých vrstev</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Europhysics Letters

  • ISSN

    0295-5075

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    85

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    FR - Francouzská republika

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000263692500019

  • EID výsledku v databázi Scopus