A comparison of different measurement methods of mechanical properties of Al thin films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F15%3A00082748" target="_blank" >RIV/00216224:14310/15:00082748 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A comparison of different measurement methods of mechanical properties of Al thin films

Popis výsledku v původním jazyce

The paper compares two different methods for testing of metallic thin films: microcompression test and nanoindentation. Microcompression test is one possibility how to perform mechanical tests on a very small scale. This method requires preparation of asmall cylindrical specimen (micropillar) of micrometric size by FIB and execution of a compression test using nanoindenter device equipped with a flat diamond punch. Stressstrain curves of the thin films were obtained from such tests. Nanoindentation tests were then conducted to compare the results on the same films. Two different metal thin films - AlCuW, AlCuSi with thickness 2 mu m and grain size 3.8 mu m in average were prepared by PVD method. In this paper, we announce the results of measurements,a comparison of the results obtained by each method and identify advantages and limitations of the methods.

Název v anglickém jazyce

A comparison of different measurement methods of mechanical properties of Al thin films

Popis výsledku anglicky

The paper compares two different methods for testing of metallic thin films: microcompression test and nanoindentation. Microcompression test is one possibility how to perform mechanical tests on a very small scale. This method requires preparation of asmall cylindrical specimen (micropillar) of micrometric size by FIB and execution of a compression test using nanoindenter device equipped with a flat diamond punch. Stressstrain curves of the thin films were obtained from such tests. Nanoindentation tests were then conducted to compare the results on the same films. Two different metal thin films - AlCuW, AlCuSi with thickness 2 mu m and grain size 3.8 mu m in average were prepared by PVD method. In this paper, we announce the results of measurements,a comparison of the results obtained by each method and identify advantages and limitations of the methods.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0086" target="_blank" >ED2.1.00/03.0086: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

NANOCON 2014, 6th International Conference: Conference Proceedings

ISBN

9788087294536

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

753-758

Název nakladatele

TANGER Ltd.

Místo vydání

Ostrava

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

5. 11. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000350636300129