Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F17%3A00094431" target="_blank" >RIV/00216224:14310/17:00094431 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.09.149" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.09.149</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.09.149" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2016.09.149</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride
Popis výsledku v původním jazyce
Optical characterization of magnesium fluoride thin films is performed in a wide spectral range from far infrared to extreme ultraviolet (0.01-45 eV) utilizing the universal dispersion model. Two film defects, i.e. random roughness of the upper boundaries and defect transition layer at lower boundary are taken into account. An extension of universal dispersion model consisting in expressing the excitonic contributions as linear combinations of Gaussian and truncated Lorentzian terms is introduced. The spectral dependencies of the optical constants are presented in a graphical form and by the complete set of dispersion parameters that allows generating tabulated optical constants with required range and step using a simple utility in the newAD2 software package.
Název v anglickém jazyce
Universal dispersion model for characterization of optical thin films over wide spectral range: Application to magnesium fluoride
Popis výsledku anglicky
Optical characterization of magnesium fluoride thin films is performed in a wide spectral range from far infrared to extreme ultraviolet (0.01-45 eV) utilizing the universal dispersion model. Two film defects, i.e. random roughness of the upper boundaries and defect transition layer at lower boundary are taken into account. An extension of universal dispersion model consisting in expressing the excitonic contributions as linear combinations of Gaussian and truncated Lorentzian terms is introduced. The spectral dependencies of the optical constants are presented in a graphical form and by the complete set of dispersion parameters that allows generating tabulated optical constants with required range and step using a simple utility in the newAD2 software package.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Svazek periodika
421
Číslo periodika v rámci svazku
November
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
424-429
Kód UT WoS článku
000408756700025
EID výsledku v databázi Scopus
—