Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F01%3APU23125" target="_blank" >RIV/00216305:26210/01:PU23125 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Low Energy Ion Scattering (LEIS) belongs to a wide group of surface science analytical techniques. Low detection limit and extreme surface sensitivity are the main advantages of LEIS. Atomic composition of analysed surfaces is determined from the energydistribution of the scattered rare gas ions. Their kinetic energy can be measured by a Time-of-Flight (ToF) spectrometer. Capabilities of the ToF LEIS spectrometer will be demonstrated at analysis of gallium layers evaporated on a SiO2 substrate

  • Název v anglickém jazyce

    Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films

  • Popis výsledku anglicky

    Low Energy Ion Scattering (LEIS) belongs to a wide group of surface science analytical techniques. Low detection limit and extreme surface sensitivity are the main advantages of LEIS. Atomic composition of analysed surfaces is determined from the energydistribution of the scattered rare gas ions. Their kinetic energy can be measured by a Time-of-Flight (ToF) spectrometer. Capabilities of the ToF LEIS spectrometer will be demonstrated at analysis of gallium layers evaporated on a SiO2 substrate

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2001

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice

  • ISBN

    80-214-1992-X

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    404-409

  • Název nakladatele

    FEI VUT v Brně

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno, FEI VUT

  • Datum konání akce

    15. 11. 2001

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku