Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Analýza tenkých vrstev pomocí ToF-LEIS

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F07%3APU67845" target="_blank" >RIV/00216305:26210/07:PU67845 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Analysis of thin films by TOF-LEIS

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In the paper the design and application of a TOF-LEIS instrument built into an UHV complex deposition and analytical apparatus is described. A special attention is aimed at demonstrating the ability of TOF-LEIS to analyse near-to-surface layers of thin films prepared both ex-situ and in-situ. Additionally, the monitoring of diffusion processes close to a sample surface by this technique is presented. It is shown that the broadening of peaks in TOF-LEIS spectra can be attributed to multiple scattering and inelastic losses of ions in deeper layers. As a result of that, the peak width of ultrathin films depends on their thickness.

  • Název v anglickém jazyce

    Analysis of thin films by TOF-LEIS

  • Popis výsledku anglicky

    In the paper the design and application of a TOF-LEIS instrument built into an UHV complex deposition and analytical apparatus is described. A special attention is aimed at demonstrating the ability of TOF-LEIS to analyse near-to-surface layers of thin films prepared both ex-situ and in-situ. Additionally, the monitoring of diffusion processes close to a sample surface by this technique is presented. It is shown that the broadening of peaks in TOF-LEIS spectra can be attributed to multiple scattering and inelastic losses of ions in deeper layers. As a result of that, the peak width of ultrathin films depends on their thickness.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Acta Physica Polonica A

  • ISSN

    0587-4284

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    111

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    PL - Polská republika

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    335-341

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus