Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F00%3A42200002" target="_blank" >RIV/00216305:26220/00:42200002 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216305:26220/00:PU24015

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Images obtained in Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) depend strongly on the experimental conditions. The theoretical model taking into account a complex structure of samples (multilayers) and the general tip geometry is introduced. This modelcan be applied to the different SNOM configurations and for various sample-electromagnetic coupling factors.

  • Název v anglickém jazyce

    Influence of the sample coating and the shape of the probe on the resolution in Scanning Near-Field Optical Microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    Images obtained in Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) depend strongly on the experimental conditions. The theoretical model taking into account a complex structure of samples (multilayers) and the general tip geometry is introduced. This modelcan be applied to the different SNOM configurations and for various sample-electromagnetic coupling factors.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostruktury: Optické a elektrické charakteristiky</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2000

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    CO-MAT-TECH 2000, 8. Medzinárodná vedecká konferencia, sv.4

  • ISBN

    80-227-1413-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Slovenská technická univerzita v Bratislave

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

  • Datum konání akce

  • Typ akce podle státní příslušnosti

  • Kód UT WoS článku