Charge carrier transport and noise of niobium capacitors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30096" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30096 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charge carrier transport and noise of niobium capacitors

Popis výsledku v původním jazyce

A charge carriers transport mechanism and low frequency noise analysis has been performed on niobium capacitors to determine the mechanism of current flow and current noise sources, both in normal and reverse mode. The model of this MIS structure can beused to give a physical interpretation of rhe niobium capacitor characteristics and temperature dependences.

Název v anglickém jazyce

Charge carrier transport and noise of niobium capacitors

Popis výsledku anglicky

A charge carriers transport mechanism and low frequency noise analysis has been performed on niobium capacitors to determine the mechanism of current flow and current noise sources, both in normal and reverse mode. The model of this MIS structure can beused to give a physical interpretation of rhe niobium capacitor characteristics and temperature dependences.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceeding of CARTS 2002 - 16th European Passive Components Conference

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

32-36

Název nakladatele

Electronic Components Institute Internationale, Ltd.

Místo vydání

SWINDON, England

Místo konání akce

Port St. Laurent, Francie

Datum konání akce

14. 10. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—