Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU37672" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU37672 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices
Popis výsledku v původním jazyce
Electrical characterization methods for the analysis of alternating current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices are presented. Particular emphasis is devoted to characterization techniques because ACTFEL devices are electro-optic display devices whose performance is to a large extent determined by their electrical properties. Steady-state electrical characterization methods discussed in this paper include charge-voltage (Q-V), capacitance-voltage (CV), internal charge-phosphor field (Q-Fp),, and maximum charge-maximum applied voltage (Qmax-Vmax) analysis. These electrical characterization methods are illustrated by reviewing relevant results obtained from the analysis of evaporated ZnS:Mn devices.
Název v anglickém jazyce
Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices
Popis výsledku anglicky
Electrical characterization methods for the analysis of alternating current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices are presented. Particular emphasis is devoted to characterization techniques because ACTFEL devices are electro-optic display devices whose performance is to a large extent determined by their electrical properties. Steady-state electrical characterization methods discussed in this paper include charge-voltage (Q-V), capacitance-voltage (CV), internal charge-phosphor field (Q-Fp),, and maximum charge-maximum applied voltage (Qmax-Vmax) analysis. These electrical characterization methods are illustrated by reviewing relevant results obtained from the analysis of evaporated ZnS:Mn devices.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference
ISBN
80-2142452-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
287-290
Název nakladatele
Ing. Zdeněk Novotný, CSc.
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
9. 9. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—