Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU37672" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU37672 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Electrical characterization methods for the analysis of alternating current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices are presented. Particular emphasis is devoted to characterization techniques because ACTFEL devices are electro-optic display devices whose performance is to a large extent determined by their electrical properties. Steady-state electrical characterization methods discussed in this paper include charge-voltage (Q-V), capacitance-voltage (CV), internal charge-phosphor field (Q-Fp),, and maximum charge-maximum applied voltage (Qmax-Vmax) analysis. These electrical characterization methods are illustrated by reviewing relevant results obtained from the analysis of evaporated ZnS:Mn devices.

  • Název v anglickém jazyce

    Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices

  • Popis výsledku anglicky

    Electrical characterization methods for the analysis of alternating current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices are presented. Particular emphasis is devoted to characterization techniques because ACTFEL devices are electro-optic display devices whose performance is to a large extent determined by their electrical properties. Steady-state electrical characterization methods discussed in this paper include charge-voltage (Q-V), capacitance-voltage (CV), internal charge-phosphor field (Q-Fp),, and maximum charge-maximum applied voltage (Qmax-Vmax) analysis. These electrical characterization methods are illustrated by reviewing relevant results obtained from the analysis of evaporated ZnS:Mn devices.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference

  • ISBN

    80-2142452-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    287-290

  • Název nakladatele

    Ing. Zdeněk Novotný, CSc.

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    9. 9. 2003

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku