Testing of Substrate and Conduct Layers of the Thick Film Structures

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39405" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39405 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Testing of Substrate and Conduct Layers of the Thick Film Structures

Popis výsledku v původním jazyce

This paper shows an overview of description of the methods which is used for testing the structure of the substrate and the conduct layers of the thick film technology. This is apart of a thesis that belong to the Thick Film Technology used for producingthe biosensor.

Název v anglickém jazyce

Testing of Substrate and Conduct Layers of the Thick Film Structures

Popis výsledku anglicky

This paper shows an overview of description of the methods which is used for testing the structure of the substrate and the conduct layers of the thick film technology. This is apart of a thesis that belong to the Thick Film Technology used for producingthe biosensor.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the Socrates Workshop 2003. Intensive Training Programme in Electronic System Design.

ISBN

80-214-2461-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

120-128

Název nakladatele

Technological Institute of Crete

Místo vydání

Chania, Greece

Místo konání akce

Technological Institute of Crete, Chania, Greece

Datum konání akce

22. 9. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—