Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vlastnosti měděných a stříbrných tlustých vrstev na keramických substrátech

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F17%3A43932851" target="_blank" >RIV/49777513:23220/17:43932851 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Vlastnosti měděných a stříbrných tlustých vrstev na keramických substrátech

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Tento článek je zaměřen na porovnání vlastností měděných a stříbrných tlustých vrstev na keramických substrátech. Technologie tlustých vrstev se používá v mnoha odvětvích elektroniky. Thick Printed Copper (TPC) je nová perspektivní technologie používaná pro výrobu výkonových substrátů. V tomto článku je uvedeno porovnání adheze, pájitelnosti a dalších vlastností měděných (TPC) a stříbrných tlustých vrstev.

  • Název v anglickém jazyce

    Properties of copper and silver thick films on ceramic substrates

  • Popis výsledku anglicky

    This paper is focused on comparison of copper (Thick Printed Copper) and silver thick films on alumina substrates properties. Thick film technology is used in many fields of electronic industry. Thick printed copper is a new prospective technology, which is used for power electronics substrate manufacturing. Comparison of adhesion, solderability and other properties of TPC technology and silver thick films are mentioned in this paper.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů