Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Effect of copper- and silver-based films on alumina substrate electrical properties

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F18%3A43933029" target="_blank" >RIV/49777513:23220/18:43933029 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0272884217325646" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0272884217325646</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ceramint.2017.11.107" target="_blank" >10.1016/j.ceramint.2017.11.107</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Effect of copper- and silver-based films on alumina substrate electrical properties

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper focuses on evaluating the influence of thick films on the electrical properties of ceramic substrates, especially their dielectric strength. Dielectric strength is one of the most important parameters of the substrates used in power electronics. Increasing the thickness of the conductive films on these substrates is necessary to achieve sufficient current capability. The glass phase of thick film metal pastes, particularly if they are printed and fired several times on the same area of the substrate, can significantly affect the dielectric strength value and other electrical parameters (resistivity, dielectric constant) of the substrates. The change of the substrate parameters using different thicknesses of copper (thick printed copper) and silver films is described in this paper.

  • Název v anglickém jazyce

    Effect of copper- and silver-based films on alumina substrate electrical properties

  • Popis výsledku anglicky

    This paper focuses on evaluating the influence of thick films on the electrical properties of ceramic substrates, especially their dielectric strength. Dielectric strength is one of the most important parameters of the substrates used in power electronics. Increasing the thickness of the conductive films on these substrates is necessary to achieve sufficient current capability. The glass phase of thick film metal pastes, particularly if they are printed and fired several times on the same area of the substrate, can significantly affect the dielectric strength value and other electrical parameters (resistivity, dielectric constant) of the substrates. The change of the substrate parameters using different thicknesses of copper (thick printed copper) and silver films is described in this paper.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1607" target="_blank" >LO1607: RICE – Nové technologie a koncepce pro inteligentní průmyslové systémy</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Ceramics International

  • ISSN

    0272-8842

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    44

  • Číslo periodika v rámci svazku

    3

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    3497-3500

  • Kód UT WoS článku

    000423891900116

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85034100509