Application of CBCM Method to Nonlinear Capacitor Characterization
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44099" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU44099 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Application of CBCM Method to Nonlinear Capacitor Characterization
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with an application of the CBCM method (Charge-Based Capacitance Measurements) to nonlinear capacitance characterization. Since its invention the CBCM method has been extensively used for on-chip interconnect linear capacitance measurements. However, it can be also used for nonlinear device characterization. Application of CBCM to 0.35-um CMOS gate-capacitance measurements is presented.
Název v anglickém jazyce
Application of CBCM Method to Nonlinear Capacitor Characterization
Popis výsledku anglicky
The paper deals with an application of the CBCM method (Charge-Based Capacitance Measurements) to nonlinear capacitance characterization. Since its invention the CBCM method has been extensively used for on-chip interconnect linear capacitance measurements. However, it can be also used for nonlinear device characterization. Application of CBCM to 0.35-um CMOS gate-capacitance measurements is presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2004
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
International Conference on Signals and Electronic Systems
ISBN
83-906074-7-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
119-121
Název nakladatele
Poznan University of Technology, PTETiS
Místo vydání
Poznan
Místo konání akce
Poznaň
Datum konání akce
13. 9. 2004
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—