Charakterizace nelineárních kondenzátorů metodou CBCM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU68093" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU68093 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

C-V Characterization of Nonlinear Capacitors Using CBCM Method

Popis výsledku v původním jazyce

The paper deals with a modification of CBCM (Charge-Based Capacitance Measurements) for nonlinear capacitance characterization. The method is characterized by high resolution although it is based on equipment found in any average laboratory. CBCM was originally developed for linear interconnect measurements. The proposed modification uses two DC swept sources to measure the whole nonlinear Q-v characteristic in both polarities without the necessity to switch the measured object. A test-chip implementingthe method was designed and manufactured in 0.35&#956;m CMOS process. Verification against known capacitances proved the method correctness and accuracy. It was successfully used for MOSCAPs characterization in full operating voltage range.

Název v anglickém jazyce

C-V Characterization of Nonlinear Capacitors Using CBCM Method

Popis výsledku anglicky

The paper deals with a modification of CBCM (Charge-Based Capacitance Measurements) for nonlinear capacitance characterization. The method is characterized by high resolution although it is based on equipment found in any average laboratory. CBCM was originally developed for linear interconnect measurements. The proposed modification uses two DC swept sources to measure the whole nonlinear Q-v characteristic in both polarities without the necessity to switch the measured object. A test-chip implementingthe method was designed and manufactured in 0.35&#956;m CMOS process. Verification against known capacitances proved the method correctness and accuracy. It was successfully used for MOSCAPs characterization in full operating voltage range.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 14th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems 2007

ISBN

83-922632-9-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

501-505

Název nakladatele

Technical University of Lodz

Místo vydání

Lodž, Poland

Místo konání akce

Ciechocinek

Datum konání akce

21. 6. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—