Charakterizace nelineárních integrovaných kondenzátorů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76259" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76259 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of Nonlinear Integrated Capacitors

Popis výsledku v původním jazyce

The paper deals with a modified CBCM (Charge-Based Capacitance Measurements) method for nonlinear capacitance characterization. The method is characterized by high resolution although it is based on equipment found in any average laboratory. CBCM was originally developed for linear interconnect measurements. The proposed modification uses two DC swept sources to measure the whole nonlinear Q-v characteristic in both polarities without the necessity to switch the measured object. A test-chip implementingthe method was designed and manufactured in the 0.35 um CMOS process. Verification against known capacitances proved the correctness and accuracy of the method. It was successfully used for MOSCAPs characterization.

Název v anglickém jazyce

Characterization of Nonlinear Integrated Capacitors

Popis výsledku anglicky

The paper deals with a modified CBCM (Charge-Based Capacitance Measurements) method for nonlinear capacitance characterization. The method is characterized by high resolution although it is based on equipment found in any average laboratory. CBCM was originally developed for linear interconnect measurements. The proposed modification uses two DC swept sources to measure the whole nonlinear Q-v characteristic in both polarities without the necessity to switch the measured object. A test-chip implementingthe method was designed and manufactured in the 0.35 um CMOS process. Verification against known capacitances proved the correctness and accuracy of the method. It was successfully used for MOSCAPs characterization.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F0784" target="_blank" >GA102/08/0784: Speciální metody modelování a simulace spínaných obvodů</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Radioengineering

ISSN

1210-2512

e-ISSN

—

Svazek periodika

17

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—