Electrical model parameter correlations assesment using DESSIS
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54411" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54411 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrical model parameter correlations assesment using DESSIS
Popis výsledku v původním jazyce
The electrical model parameter extraction methodology proffitting from DESSIS device simulation techniques and HSPICE optimization procedures is presented. The described method based on the DESSIS-HSPICE link enables to search HSPICE model parameter correlations due to technology parameters variation. The link is capable to transform large amounts of data from DESSIS to HSPICE needed in described simple experiment. The electrical model parameters dependence on selected diode technology parameter is caalculated and displayed. The individual steps to create, mesh, and simulate diode structure, transform electrical data from DESSIS to HSPICE, extract model parameters for each technology parameter value and display the results are described.
Název v anglickém jazyce
Electrical model parameter correlations assesment using DESSIS
Popis výsledku anglicky
The electrical model parameter extraction methodology proffitting from DESSIS device simulation techniques and HSPICE optimization procedures is presented. The described method based on the DESSIS-HSPICE link enables to search HSPICE model parameter correlations due to technology parameters variation. The link is capable to transform large amounts of data from DESSIS to HSPICE needed in described simple experiment. The electrical model parameters dependence on selected diode technology parameter is caalculated and displayed. The individual steps to create, mesh, and simulate diode structure, transform electrical data from DESSIS to HSPICE, extract model parameters for each technology parameter value and display the results are described.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Socrates Workshop 2005, Intensive Training Programme in Electronic System Design - Proceedings
ISBN
80-214-3042-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
68-71
Název nakladatele
Nakl. Novotný
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Chania, Crete, Greece
Datum konání akce
21. 9. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—