Využití metod optického blízkého pole pro měření a senzory v nanofotonice

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU62150" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU62150 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Near-field optical measurement and sensing in Nanophotonics

Popis výsledku v původním jazyce

The current progress in semiconductor optoelectronics, laser diodes, fast photodetectors, optical modulators, MEMS and MOEMS technology, micro- and nano-electronics development and optical manufacturing technology opens new and improved perspectives foroptical sensors and measuring systems, which integrate several components in order to achieve new functionalities. To measure local characteristics of these devices, the use of near-field optics is very important because the coupling of the evanescent ellectromagnetic field and the radiative electromagnetic waves in the vicinity of a nano-probe placed near the boundary between allows overcome the diffraction limit of light of conventional optics. This technique could be useful to the measurement and sensing of local optical and electro-optical characteristics in nanoscience. The paper brings an overview of several methods using the contrast mechanisms in optical near-field to characterize nanophotonic devices.

Název v anglickém jazyce

Near-field optical measurement and sensing in Nanophotonics

Popis výsledku anglicky

The current progress in semiconductor optoelectronics, laser diodes, fast photodetectors, optical modulators, MEMS and MOEMS technology, micro- and nano-electronics development and optical manufacturing technology opens new and improved perspectives foroptical sensors and measuring systems, which integrate several components in order to achieve new functionalities. To measure local characteristics of these devices, the use of near-field optics is very important because the coupling of the evanescent ellectromagnetic field and the radiative electromagnetic waves in the vicinity of a nano-probe placed near the boundary between allows overcome the diffraction limit of light of conventional optics. This technique could be useful to the measurement and sensing of local optical and electro-optical characteristics in nanoscience. The paper brings an overview of several methods using the contrast mechanisms in optical near-field to characterize nanophotonic devices.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. of the Symposium on Photonics Technology for the 7th Framework Programme

ISBN

83-7085-970-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

51-54

Název nakladatele

Wroclaw University of Technology

Místo vydání

Wroclaw, Poland

Místo konání akce

Wroclaw

Datum konání akce

11. 10. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—