Simulace jevů krátkého kanálu
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU65047" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU65047 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Simulace jevů krátkého kanálu
Popis výsledku v původním jazyce
Prahové napětí tranzistorů MOSFET s krátkým kanálem se zmenšuje jestliže zvětšujeme napětí kolektoru a tento jev krátkého kanálu označujeme jako DIBL (Drain Induced Barrier Lowering). Příspěvek se zabývá TCAD (Technology Computer Aided Design) simulací tohoto jevu. Je popsán postup pro určení redukce prahového napětí a pro zvětšení podprahového proudu vyvolaných DIBL. Tento postup zahrnuje celkem 5 experímentů pro 5 vybraných hodnot předpětí kolektoru a jednotlivý experiment zahrnuje generaci strukturyprogramem MDRAW, simulaci struktury programem DESSIS a extrakci elektrických charakteristik programem INSPECT. Všechny experimenty jsou prováděny v grafickém prostředí GENESISE.
Název v anglickém jazyce
Short-channel effects simulation
Popis výsledku anglicky
For short channel MOSFETs, the threshold voltage is reduced if the drain bias is increased and this short-channel effect (SCE) is known as drain-induced barrier lowering (DIBL). The contribution deals with TCAD simulation of DIBL. The method to extract the threshold voltage reduction and the subthreshold current increase due to DIBL is described. The experiment contains five different NMOSFET device simulations in order to illustrate drain-induced barrier lowering. The simulations are run under GENESISe. The tool flow starts with the device editor MDRAW followed by device simulator DESSIS and visualization and extraction tool INSPECT.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Konference MIKROSYN. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích
ISBN
80-214-3342-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
98-101
Název nakladatele
Nakl. Novotný
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
12. 12. 2006
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—