Testování solárních článků pomocí přechodových dějů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU65081" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU65081 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Testing of solar cells using fast transients

Popis výsledku v původním jazyce

In solar cell diagnostic the parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers are of great importance. To measure electric parameters standard method formeasurement of substitute scheme can be used except measurement of reverse breakdown voltage because of large reverse current by some cells. Minority carrier lifetime estimation is more complicated. In fact there are few methods for measurement of minority carriers lifetime on unprocessed substrate, but this methods are not applicable easily on solar cells. Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedureis very simple and no expensive devices are needed. Estimating the recombination time there is a problem with influence of the depletion layer capacitance, which masks the recombination phenomena. Because relatively high doping level by

Název v anglickém jazyce

Testing of solar cells using fast transients

Popis výsledku anglicky

In solar cell diagnostic the parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and lifetime of minority carriers are of great importance. To measure electric parameters standard method formeasurement of substitute scheme can be used except measurement of reverse breakdown voltage because of large reverse current by some cells. Minority carrier lifetime estimation is more complicated. In fact there are few methods for measurement of minority carriers lifetime on unprocessed substrate, but this methods are not applicable easily on solar cells. Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedureis very simple and no expensive devices are needed. Estimating the recombination time there is a problem with influence of the depletion layer capacitance, which masks the recombination phenomena. Because relatively high doping level by

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

21st European Photovoltaic Solar Energy Conference

ISBN

ISBN 3-936338-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

253-258

Název nakladatele

NEUVEDEN

Místo vydání

NEUVEDEN

Místo konání akce

Dresden

Datum konání akce

4. 9. 2006

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—