Stárnuti polovodičových monokrystalů a přechodů kov - polovodič

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU74425" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU74425 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Ageing of Semiconductor Single Crystals and Metal-Semiconductor Junctions

Popis výsledku v původním jazyce

CdTe radiation detectors resistance were periodically measured during long time interval with an applied voltage in range U=1V to U=30V. In 1,5 years of measurements we observed the aging of the homogenous semiconductor and metal-semiconductor junction.The resistance of the semiconductor increased significantly. The metal-semiconductor junction working in forward bias had much higher value of voltage drop than it must have had. Volt-ampere characteristics were not stable and significantly changed in small periods of time. Dependence of the resistance also was unstable.

Název v anglickém jazyce

Ageing of Semiconductor Single Crystals and Metal-Semiconductor Junctions

Popis výsledku anglicky

CdTe radiation detectors resistance were periodically measured during long time interval with an applied voltage in range U=1V to U=30V. In 1,5 years of measurements we observed the aging of the homogenous semiconductor and metal-semiconductor junction.The resistance of the semiconductor increased significantly. The metal-semiconductor junction working in forward bias had much higher value of voltage drop than it must have had. Volt-ampere characteristics were not stable and significantly changed in small periods of time. Dependence of the resistance also was unstable.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F07%2F0113" target="_blank" >GA102/07/0113: Diagnostika Schottkyho a studenoemisních katod pomocí elektronického šumu</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ISSE 2008 Reliability and Life-time Prediction

ISBN

978-963-06-4915-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Zsolt Illyefalvi-Vitez

Místo vydání

Budapest, Hungary

Místo konání akce

Budapest

Datum konání akce

7. 5. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—