Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82313" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82313 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Our research is above all focused on non-destructive testing of the solar cells. We study a single-crystal silicon solar cells n+p and we don't have serious information about features of a pn junction and impurities distribution. The main point of our study is characterization of the local defects in samples. These defects lead to live-time reduction and degradation of reliability. Flicker noise in forward biased solar cells is subject of this paper. We will discuss our measurement with Kleinpenning approaches for inhomogeneous semiconductors and we suggest the physical nature of the samples behaviour.
Název v anglickém jazyce
Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy
Popis výsledku anglicky
Our research is above all focused on non-destructive testing of the solar cells. We study a single-crystal silicon solar cells n+p and we don't have serious information about features of a pn junction and impurities distribution. The main point of our study is characterization of the local defects in samples. These defects lead to live-time reduction and degradation of reliability. Flicker noise in forward biased solar cells is subject of this paper. We will discuss our measurement with Kleinpenning approaches for inhomogeneous semiconductors and we suggest the physical nature of the samples behaviour.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
AIP conference proceedings
ISSN
0094-243X
e-ISSN
—
Svazek periodika
1129
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000267057200035
EID výsledku v databázi Scopus
—