Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82313" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82313 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Our research is above all focused on non-destructive testing of the solar cells. We study a single-crystal silicon solar cells n+p and we don't have serious information about features of a pn junction and impurities distribution. The main point of our study is characterization of the local defects in samples. These defects lead to live-time reduction and degradation of reliability. Flicker noise in forward biased solar cells is subject of this paper. We will discuss our measurement with Kleinpenning approaches for inhomogeneous semiconductors and we suggest the physical nature of the samples behaviour.

  • Název v anglickém jazyce

    Diagnostics of Forward Biased Silicon Solar Cells Using Noise Spectroscopy

  • Popis výsledku anglicky

    Our research is above all focused on non-destructive testing of the solar cells. We study a single-crystal silicon solar cells n+p and we don't have serious information about features of a pn junction and impurities distribution. The main point of our study is characterization of the local defects in samples. These defects lead to live-time reduction and degradation of reliability. Flicker noise in forward biased solar cells is subject of this paper. We will discuss our measurement with Kleinpenning approaches for inhomogeneous semiconductors and we suggest the physical nature of the samples behaviour.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    AIP conference proceedings

  • ISSN

    0094-243X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    1129

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000267057200035

  • EID výsledku v databázi Scopus