Low Frequency Noise and Ions Diffusion in the CdTe Bulk Single Crystals

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU95379" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU95379 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Low Frequency Noise and Ions Diffusion in the CdTe Bulk Single Crystals

Popis výsledku v původním jazyce

The effect of ions diffusion on time dependence of noise and polarization phenomena of CdTe bulk single crystals has been carried out. We evaluated the instability of the reverse current of the Schottky contact at the P-type CdTe and the Au interface bya model which considers the effects of deep acceptors. The results shows small detrapping time compared to the experimental measurements. We suggested the diffusion of ions in depletion region at the metal - semiconductor (M-S) interface causes an additional reduction of the barrier and may be considered as another responsible mechanism for the polarization effect.

Název v anglickém jazyce

Low Frequency Noise and Ions Diffusion in the CdTe Bulk Single Crystals

Popis výsledku anglicky

The effect of ions diffusion on time dependence of noise and polarization phenomena of CdTe bulk single crystals has been carried out. We evaluated the instability of the reverse current of the Schottky contact at the P-type CdTe and the Au interface bya model which considers the effects of deep acceptors. The results shows small detrapping time compared to the experimental measurements. We suggested the diffusion of ions in depletion region at the metal - semiconductor (M-S) interface causes an additional reduction of the barrier and may be considered as another responsible mechanism for the polarization effect.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GAP102%2F11%2F0995" target="_blank" >GAP102/11/0995: Transport elektronů, šum a diagnostika Shottkyho a autoemisních katod</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

21st International Conference on Noise and Fluctuations

ISBN

978-1-4577-0191-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

1-4

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Kanada

Místo konání akce

Toronto, Kanada

Datum konání akce

12. 6. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—