NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU99049" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU99049 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS
Popis výsledku v původním jazyce
Polarization phenomena in a metal-semiconductor-metal (M-S-M) structure of two metallic Schottky contacts fabricated to CdTe radiation detectors were studied. We evaluate the distribution of the electric field along the biased M-S-M structure by Pockelsmeasurements. The noise measurements of studied CdTe detectors show that the dominant noise is 1/f noise type.
Název v anglickém jazyce
NOISE AND POLARIZATION STUDY OF DEFECT STRUCTURE OF CDTE RADIATION DETECTORS
Popis výsledku anglicky
Polarization phenomena in a metal-semiconductor-metal (M-S-M) structure of two metallic Schottky contacts fabricated to CdTe radiation detectors were studied. We evaluate the distribution of the electric field along the biased M-S-M structure by Pockelsmeasurements. The noise measurements of studied CdTe detectors show that the dominant noise is 1/f noise type.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)