Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU116822" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU116822 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This article deals with the area of solder joints reliability and narrower focus is on interconnetion between FR-4 and low temperature co-fired substrate LTCC via smd part. The text describes the introduction to the issue of reliability of soldered connections and important factors with their influences. These factors also relate with choice of substrates and technological processes of preparation, which are characterized and described. Another part is devoted to the sphere of computer analysis in ANSYSand the specifically. Then are included some options for analysis of reliability. It contains the issue of fatigue models and design of simulation in ANSYS. In conclusion, there are described otuputs of simulations and results obtained from experimentalmeasurements and these are compared and analyzed.

  • Název v anglickém jazyce

    RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD

  • Popis výsledku anglicky

    This article deals with the area of solder joints reliability and narrower focus is on interconnetion between FR-4 and low temperature co-fired substrate LTCC via smd part. The text describes the introduction to the issue of reliability of soldered connections and important factors with their influences. These factors also relate with choice of substrates and technological processes of preparation, which are characterized and described. Another part is devoted to the sphere of computer analysis in ANSYSand the specifically. Then are included some options for analysis of reliability. It contains the issue of fatigue models and design of simulation in ANSYS. In conclusion, there are described otuputs of simulations and results obtained from experimentalmeasurements and these are compared and analyzed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Nanocon 2015 Conference proceedings

  • ISBN

    978-80-87294-59-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    1-1

  • Název nakladatele

    Tanger, Ltd.

  • Místo vydání

    Ostrava

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    15. 10. 2015

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku