RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F15%3APU116822" target="_blank" >RIV/00216305:26220/15:PU116822 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD
Popis výsledku v původním jazyce
This article deals with the area of solder joints reliability and narrower focus is on interconnetion between FR-4 and low temperature co-fired substrate LTCC via smd part. The text describes the introduction to the issue of reliability of soldered connections and important factors with their influences. These factors also relate with choice of substrates and technological processes of preparation, which are characterized and described. Another part is devoted to the sphere of computer analysis in ANSYSand the specifically. Then are included some options for analysis of reliability. It contains the issue of fatigue models and design of simulation in ANSYS. In conclusion, there are described otuputs of simulations and results obtained from experimentalmeasurements and these are compared and analyzed.
Název v anglickém jazyce
RELIABILITY OF SOLDERED CONNECTION FR-4 AND LTCC VIA SMD
Popis výsledku anglicky
This article deals with the area of solder joints reliability and narrower focus is on interconnetion between FR-4 and low temperature co-fired substrate LTCC via smd part. The text describes the introduction to the issue of reliability of soldered connections and important factors with their influences. These factors also relate with choice of substrates and technological processes of preparation, which are characterized and described. Another part is devoted to the sphere of computer analysis in ANSYSand the specifically. Then are included some options for analysis of reliability. It contains the issue of fatigue models and design of simulation in ANSYS. In conclusion, there are described otuputs of simulations and results obtained from experimentalmeasurements and these are compared and analyzed.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Nanocon 2015 Conference proceedings
ISBN
978-80-87294-59-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
1-1
Název nakladatele
Tanger, Ltd.
Místo vydání
Ostrava
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
15. 10. 2015
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—