Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F19%3APU132060" target="_blank" >RIV/00216305:26230/19:PU132060 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11905/" target="_blank" >https://www.fit.vut.cz/research/publication/11905/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724636" target="_blank" >10.1109/DDECS.2019.8724636</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Reconfigurable fault tolerant (FT) architecture can be implemented into SRAM FPGA by using combination of Partial Dynamic Reconfiguration (PDR) and Triple Modular Redundancy (TMR). SRAM FPGAs are susceptible to Single Event Upsets (SEUs) which are the most common transient faults induced by cosmic radiation. SEU mitigation mechanism is required when SRAM FPGAs are integrated into safety-critical systems. An essential requirement for these systems is often to remain fail-operational and perform implemented functionality after the occurrence of a fault. In our research, we proposed a run-time FT architecture based on coarse-grained TMR with triplicated soft-core processor neo430, PDR for removing all transient SEU faults and the state synchronization allowing smooth state recovery from the inconsistent state when reconfiguration of failed processor instance was finished into the state where all three processors operate synchronously. This paper describes developed FT architecture and fault recovery strategy performing all necessary steps run-time and without additional blocking of the system functionality. The state synchronization for soft-core processor neo430 architecture is described in detail. Moreover, the paper presents developed PDR framework used for validation of proposed fault recovery strategy.

  • Název v anglickém jazyce

    Run-Time Reconfigurable Fault Tolerant Architecture for Soft-Core Processor neo430

  • Popis výsledku anglicky

    Reconfigurable fault tolerant (FT) architecture can be implemented into SRAM FPGA by using combination of Partial Dynamic Reconfiguration (PDR) and Triple Modular Redundancy (TMR). SRAM FPGAs are susceptible to Single Event Upsets (SEUs) which are the most common transient faults induced by cosmic radiation. SEU mitigation mechanism is required when SRAM FPGAs are integrated into safety-critical systems. An essential requirement for these systems is often to remain fail-operational and perform implemented functionality after the occurrence of a fault. In our research, we proposed a run-time FT architecture based on coarse-grained TMR with triplicated soft-core processor neo430, PDR for removing all transient SEU faults and the state synchronization allowing smooth state recovery from the inconsistent state when reconfiguration of failed processor instance was finished into the state where all three processors operate synchronously. This paper describes developed FT architecture and fault recovery strategy performing all necessary steps run-time and without additional blocking of the system functionality. The state synchronization for soft-core processor neo430 architecture is described in detail. Moreover, the paper presents developed PDR framework used for validation of proposed fault recovery strategy.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LQ1602" target="_blank" >LQ1602: IT4Innovations excellence in science</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2019

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2019)

  • ISBN

    978-1-7281-0073-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    136-140

  • Název nakladatele

    IEEE Computer Society

  • Místo vydání

    Cluj-Napoca

  • Místo konání akce

    Cluj-Napoca

  • Datum konání akce

    24. 4. 2019

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000492839800003