Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F20%3APU138607" target="_blank" >RIV/00216305:26230/20:PU138607 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12101/" target="_blank" >https://www.fit.vut.cz/research/publication/12101/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/VLSI-DAT49148.2020.9196269" target="_blank" >10.1109/VLSI-DAT49148.2020.9196269</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with a reliability analysis of a reconfiguration controller which can be a component of a fault-tolerant control system. This controller is designed for an FPGA to be capable of using partial dynamic reconfiguration of the FPGA to mitigate potential faults in the FPGAs configuration memory. These faults, which are called SEUs, can be induced by radiation effects. Therefore, fault tolerance measurement or estimation is very important for designing circuits for critical environments. Thus, the reliability of the reconfiguration controller itself is significant; therefore the Fault Tolerance ESTimation (FT-EST) framework is used for reliability evaluation, which is procured by the discovery of a number of critical configuration bits. Two approaches are used and compared: evaluations of used LUT only, and evaluations of all configuration bits. We ascertained a 20x reduction in time consumption at the expense of a proportional decrease in the amount of critical configuration bits discovered. The obtained results are nearly equivalent.

  • Název v anglickém jazyce

    Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with a reliability analysis of a reconfiguration controller which can be a component of a fault-tolerant control system. This controller is designed for an FPGA to be capable of using partial dynamic reconfiguration of the FPGA to mitigate potential faults in the FPGAs configuration memory. These faults, which are called SEUs, can be induced by radiation effects. Therefore, fault tolerance measurement or estimation is very important for designing circuits for critical environments. Thus, the reliability of the reconfiguration controller itself is significant; therefore the Fault Tolerance ESTimation (FT-EST) framework is used for reliability evaluation, which is procured by the discovery of a number of critical configuration bits. Two approaches are used and compared: evaluations of used LUT only, and evaluations of all configuration bits. We ascertained a 20x reduction in time consumption at the expense of a proportional decrease in the amount of critical configuration bits discovered. The obtained results are nearly equivalent.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20206 - Computer hardware and architecture

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2020 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT) : proceedings of technical papers

  • ISBN

    978-1-7281-6083-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    121-124

  • Název nakladatele

    IEEE Computer Society

  • Místo vydání

    Hsinchu

  • Místo konání akce

    Ambassador Hotel, Hsinchu, Taiwan

  • Datum konání akce

    10. 8. 2020

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000612045400011