Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F20%3APU138607" target="_blank" >RIV/00216305:26230/20:PU138607 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12101/" target="_blank" >https://www.fit.vut.cz/research/publication/12101/</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/VLSI-DAT49148.2020.9196269" target="_blank" >10.1109/VLSI-DAT49148.2020.9196269</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study
Popis výsledku v původním jazyce
This paper deals with a reliability analysis of a reconfiguration controller which can be a component of a fault-tolerant control system. This controller is designed for an FPGA to be capable of using partial dynamic reconfiguration of the FPGA to mitigate potential faults in the FPGAs configuration memory. These faults, which are called SEUs, can be induced by radiation effects. Therefore, fault tolerance measurement or estimation is very important for designing circuits for critical environments. Thus, the reliability of the reconfiguration controller itself is significant; therefore the Fault Tolerance ESTimation (FT-EST) framework is used for reliability evaluation, which is procured by the discovery of a number of critical configuration bits. Two approaches are used and compared: evaluations of used LUT only, and evaluations of all configuration bits. We ascertained a 20x reduction in time consumption at the expense of a proportional decrease in the amount of critical configuration bits discovered. The obtained results are nearly equivalent.
Název v anglickém jazyce
Reliability Analysis of Reconfiguration Controller for FPGA-Based Fault Tolerant Systems: Case Study
Popis výsledku anglicky
This paper deals with a reliability analysis of a reconfiguration controller which can be a component of a fault-tolerant control system. This controller is designed for an FPGA to be capable of using partial dynamic reconfiguration of the FPGA to mitigate potential faults in the FPGAs configuration memory. These faults, which are called SEUs, can be induced by radiation effects. Therefore, fault tolerance measurement or estimation is very important for designing circuits for critical environments. Thus, the reliability of the reconfiguration controller itself is significant; therefore the Fault Tolerance ESTimation (FT-EST) framework is used for reliability evaluation, which is procured by the discovery of a number of critical configuration bits. Two approaches are used and compared: evaluations of used LUT only, and evaluations of all configuration bits. We ascertained a 20x reduction in time consumption at the expense of a proportional decrease in the amount of critical configuration bits discovered. The obtained results are nearly equivalent.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20206 - Computer hardware and architecture
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
2020 International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT) : proceedings of technical papers
ISBN
978-1-7281-6083-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
121-124
Název nakladatele
IEEE Computer Society
Místo vydání
Hsinchu
Místo konání akce
Ambassador Hotel, Hsinchu, Taiwan
Datum konání akce
10. 8. 2020
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000612045400011