Příprava vzorků pro testování rozlišení
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F16%3APU122509" target="_blank" >RIV/00216305:26620/16:PU122509 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Příprava vzorků pro testování rozlišení
Popis výsledku v původním jazyce
Výzkumná zpráva je zaměřena na přípravu speciálních vzorků pro testování vysokého laterálního rozlišení skenovacího elektronového mikroskopu, dále pro testování energiově selektivního zobrazování pomocí odražených elektronů a vzorku pro demonstraci hmotnostního rozlišení přístroje SIMS ve verzi H-TOF.
Název v anglickém jazyce
Preparation of samples for testing of the resolution of the
Popis výsledku anglicky
Research report is focused on the preparation of special samples for testing of the high lateral resolution of the scanning electron microscope, x-ray energy dispersive spectrometer testing for selective viewing using the electrons and the sample for a demonstration of mass resolution of the device in the SIMS version of H-TOF.
Klasifikace
Druh
V<sub>souhrn</sub> - Souhrnná výzkumná zpráva
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Počet stran výsledku
14
Místo vydání
Brno
Název nakladatele resp. objednatele
Neuveden
Verze
—