Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00352422" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00352422 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Among traditional methods of the electron microscopy (EM) the transmission EM operates at highest energies of electrons and the sample used to be immersed in strong magnetic field. The emission EM has its sample emitting very slow electrons in strong electric field of the cathode lens (CL). The conventional scanning EM (SEM) worked in the medium energy range with the sample in a field free space. Immersion of the SEM sample into magnetic field (and correction of aberrations) improved the resolution up to observation of single atoms. When transferring the CL principle into the SEM we preserve a small primary spot down to lowest energies with the electric field strength as a factor limiting the resolution.

Název v anglickém jazyce

Advances in Low Energy Scanning Electron Microscopy

Popis výsledku anglicky

Among traditional methods of the electron microscopy (EM) the transmission EM operates at highest energies of electrons and the sample used to be immersed in strong magnetic field. The emission EM has its sample emitting very slow electrons in strong electric field of the cathode lens (CL). The conventional scanning EM (SEM) worked in the medium energy range with the sample in a field free space. Immersion of the SEM sample into magnetic field (and correction of aberrations) improved the resolution up to observation of single atoms. When transferring the CL principle into the SEM we preserve a small primary spot down to lowest energies with the electric field strength as a factor limiting the resolution.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IAA100650902" target="_blank" >IAA100650902: Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress

ISBN

978-85-63273-06-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise

Místo vydání

Rio de Janeiro

Místo konání akce

Rio de Janeiro

Datum konání akce

19. 9. 2010

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—