Složení obrazového signálu v rastrovacícm nízko-energiovém elektronovém mikroskopu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F04%3A00109028" target="_blank" >RIV/68081731:_____/04:00109028 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope

Popis výsledku v původním jazyce

In a medium class scanning electron microscope (SEM) the specimen is placed in a space almost free of any field, since only a negligible magnetic field penetrates outside the objective lens and only a weak electrostatic field is used to attract secondaryelections (SE) to a side detector. Coaxial detectors of backscattered electrons (BSE) rely on straight trajectories not affected by fields. Advanced high resolution SEM usually has the specimen immersed in a strong magnetic field that greatly influencesthe trajectories in the signal flow - this particularly applies to low energy operation. Furthermore, innovative detection assemblies employ tailored systems of field generating electrodes in order to transport signal electrons to the "upper" SE detector or other arrangements above the objective lens

Název v anglickém jazyce

The composition of the image signal in the scanning low energy electron microscope

Popis výsledku anglicky

In a medium class scanning electron microscope (SEM) the specimen is placed in a space almost free of any field, since only a negligible magnetic field penetrates outside the objective lens and only a weak electrostatic field is used to attract secondaryelections (SE) to a side detector. Coaxial detectors of backscattered electrons (BSE) rely on straight trajectories not affected by fields. Advanced high resolution SEM usually has the specimen immersed in a strong magnetic field that greatly influencesthe trajectories in the signal flow - this particularly applies to low energy operation. Furthermore, innovative detection assemblies employ tailored systems of field generating electrodes in order to transport signal electrons to the "upper" SE detector or other arrangements above the objective lens

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/IAA1065901" target="_blank" >IAA1065901: Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EMC 2004 - Proceedings of the 13th European Microscopy Congress

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

323-324

Název nakladatele

Belgian Society for Microscopy

Místo vydání

Liege

Místo konání akce

Antwerp

Datum konání akce

22. 8. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—