Final Product Specification for 200 mm AEPI W814AXX Silicon Epitaxial Wafers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F13%3A%230000057" target="_blank" >RIV/26821532:_____/13:#0000057 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Final Product Specification for 200 mm AEPI W814AXX Silicon Epitaxial Wafers
Popis výsledku v původním jazyce
Polished Silicon wafer with Advanced Epitaxial Layer (AEPI). Wafer diameter 200 mm. Localized Light Scatterers (LLS) 100% of Wafer - max. 30 Counts per wafer >0.30 um by laser scan, Localized Light Scatterers (LLS) 90% of Wafer - max. 20 Counts per wafer>0.30 um by laser scan, thickness variability max. 2%, resistivity variability max. 4%.
Název v anglickém jazyce
Final Product Specification for 200 mm AEPI W814AXX Silicon Epitaxial Wafers
Popis výsledku anglicky
Polished Silicon wafer with Advanced Epitaxial Layer (AEPI). Wafer diameter 200 mm. Localized Light Scatterers (LLS) 100% of Wafer - max. 30 Counts per wafer >0.30 um by laser scan, Localized Light Scatterers (LLS) 90% of Wafer - max. 20 Counts per wafer>0.30 um by laser scan, thickness variability max. 2%, resistivity variability max. 4%.
Klasifikace
Druh
G<sub>funk</sub> - Funkční vzorek
CEP obor
JJ - Ostatní materiály
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/FR-TI3%2F031" target="_blank" >FR-TI3/031: Výzkum a vývoj technologií výroby nových typů křemíkových desek</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Údaje specifické pro druh výsledku
Interní identifikační kód produktu
AEPIW814AXX
Číselná identifikace
—
Technické parametry
200 mm AEPI, LLS 100% of wafer - max. 30 >0.30 um, LLS 90% of wafer - max. 20 >0.30 um, TTV AEPI max. 2%, RRV AEPI max. 4%.
Ekonomické parametry
Cana max. 100USD/200 mm AEPI desku
Kategorie aplik. výsledku dle nákladů
—
IČO vlastníka výsledku
26821532
Název vlastníka
ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o., právní nástupce
Stát vlastníka
CZ - Česká republika
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Požadavek na licenční poplatek
A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Adresa www stránky s výsledkem
—