Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Studium povrchu plazmatických oxidovaných tenkých vrstev hliníku pomocí AFM

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F44555601%3A13430%2F01%3A00001435" target="_blank" >RIV/44555601:13430/01:00001435 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Studium povrchu plazmatických oxidovaných tenkých vrstev hliníku pomocí AFM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Příspěvek se zabývá studiem struktury povrchu tenkých vrstev oxidu hliníku připravených plazmatickou oxidací za různých experimentální systém umožňuje přípravu tenkých kovových vrstev vakuovým napařováním a jejich in-situ následnou plazmatickou oxidací vDC výboji kyslíku nebo směsi argonu a kyslíku. Parametry plazmatu jsou určovány pomocí optické emisní spektroskopie, vzorkovacího systému s hmotnostním spektrometrem nebo sondovou diagnostikou. Analýza povrchu byla prováděna diagnostickou technikou AFM(rozsah rastrování 25 mikrometr x 25 mikrometr a menší). Analýza povrchů vrstev oxidu hliníku připravených plazmatickou oxidací pro různé hodnoty přepětí substrátu ukazuje vliv tohoto experimentálního parametru na strukturu povrchu takto připravených vr stev.

  • Název v anglickém jazyce

    AFM Study of Thin Alumina Layers Prepared by Plasma Oxidation

  • Popis výsledku anglicky

    This work deals with a surface structure study of thin alumina films prepared by plasma oxidatin. The experiments were carried out in the system for plasma surface modification of thin films. The allumina films were prepared by vacuum evaporation of thinaluminum films followed by in situ plasma oxidation in DC discharge in Ar/O2 gas mixture. Plasma parameters during plasma oxidation were measured by optical emission spectroscopy, guadrupole mass spectrometry,and Langmuir electostatic probe. The surfacestructure was measured by Atomic Force Microscopy (AFM). Surface properties of thin alumina films depend on the substrate bias voltage during plasma oxidation.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/OK%20401" target="_blank" >OK 401: Studium technologických procesů za asistence plazmatu</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2001

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Československý časopis pro fyziku

  • ISSN

    0009-0700

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    51

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    59-61

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus