The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24210%2F13%3A%230005715" target="_blank" >RIV/46747885:24210/13:#0005715 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/46747885:24620/13:#0000343
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control
Popis výsledku v původním jazyce
It is possible to modify physical and chemical properties (e.g. hardness, corrosion- and abrasion resistance, friction coefficient, etc.) of base material through the thin layer deposition. The scanning probe microscopy could be used for the precise characterization thin layer properties. Through the scanning probe microscopy it is easily possible to determine e.g. 3D topology, nanohardness, elasticity, adhesion, electrical and thermal conductivity etc.
Název v anglickém jazyce
The use of scanning probe microscopy for a thin layer quality control
Popis výsledku anglicky
It is possible to modify physical and chemical properties (e.g. hardness, corrosion- and abrasion resistance, friction coefficient, etc.) of base material through the thin layer deposition. The scanning probe microscopy could be used for the precise characterization thin layer properties. Through the scanning probe microscopy it is easily possible to determine e.g. 3D topology, nanohardness, elasticity, adhesion, electrical and thermal conductivity etc.

Projekt
<a href="/cs/project/ED0005%2F01%2F01" target="_blank" >ED0005/01/01: Centrum pro nanomateriály, pokrocilé technologie a inovace</a><br>
Návaznosti
V - Vyzkumna aktivita podporovana z jinych verejnych zdroju

Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)