Built-In Self Test From Hardware Point of View

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F01%3A00000009" target="_blank" >RIV/46747885:24220/01:00000009 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Built-In Self Test From Hardware Point of View

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper we present experiences with BISTE (Built-In Self Test Equipment) from hardware point-of-view. Circuit scheme consists of the CUT (Circuit Under Test), TPG (Test Pattern Generator - part of the BIST which prepares test patterns and forces itAll these parts have an influence on the dimensions of the final IC. Different test techniques have different hardware overhead demands. We have done the comparison of the basic flip-flops (FF), which we have used for the TPG design. We also demonstratean influence of the used BISTE technique to the hardware overhead.

Název v anglickém jazyce

Built-In Self Test From Hardware Point of View

Popis výsledku anglicky

In this paper we present experiences with BISTE (Built-In Self Test Equipment) from hardware point-of-view. Circuit scheme consists of the CUT (Circuit Under Test), TPG (Test Pattern Generator - part of the BIST which prepares test patterns and forces itAll these parts have an influence on the dimensions of the final IC. Different test techniques have different hardware overhead demands. We have done the comparison of the basic flip-flops (FF), which we have used for the TPG design. We also demonstratean influence of the used BISTE technique to the hardware overhead.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F01%2F0566" target="_blank" >GA102/01/0566: Metody optimalizace vestavěných diagnostických prostředků v integrovaných obvodech</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

5th Workshop on Electronics, Control, Modelling, Measurment and Signals

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

131-135

Název nakladatele

Universite Paul Sabatier

Místo vydání

Toulouse, France

Místo konání akce

Toulouse

Datum konání akce

30. 5. 2001

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—