Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Hardware Overhead of Boundary Scan and RAS Design Methodologies

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F02%3A00000002" target="_blank" >RIV/46747885:24220/02:00000002 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Hardware Overhead of Boundary Scan and RAS Design Methodologies

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper we present results of our experiments with integrated circuit BISTE. We have compared the hardware overhead of the BS diagnostic equipment with the RAS design. We have built the RAS diagnostic equipment with the same controlling circuitry aFurther area reduction can be obtained by using built-in TPG on chip. These generators spare the memory for storing the test vectors. We have found that when using this kind of test pattern generators the total area devoted for diagnostics is the lowest

  • Název v anglickém jazyce

    Hardware Overhead of Boundary Scan and RAS Design Methodologies

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper we present results of our experiments with integrated circuit BISTE. We have compared the hardware overhead of the BS diagnostic equipment with the RAS design. We have built the RAS diagnostic equipment with the same controlling circuitry aFurther area reduction can be obtained by using built-in TPG on chip. These generators spare the memory for storing the test vectors. We have found that when using this kind of test pattern generators the total area devoted for diagnostics is the lowest

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F01%2F0566" target="_blank" >GA102/01/0566: Metody optimalizace vestavěných diagnostických prostředků v integrovaných obvodech</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 5th International workshop IEEE DDECS2002

  • ISBN

    80-214-2094-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    36-43

  • Název nakladatele

    Brno University of Technology, faculty of Information Technology

  • Místo vydání

    Brno, Czech

  • Místo konání akce

    Brno, Czech

  • Datum konání akce

    17. 4. 2002

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku