Test Compression Using Extended Nonlinear Binary Codes

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F18%3A00006122" target="_blank" >RIV/46747885:24220/18:00006122 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8474242&isnumber=8474071" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8474242&isnumber=8474071</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/IOLTS.2018.8474242" target="_blank" >10.1109/IOLTS.2018.8474242</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Test Compression Using Extended Nonlinear Binary Codes

Popis výsledku v původním jazyce

The linear binary codes can be extended by a relatively high number of nonlinear check bits in such a way that the code words preserve the value of the maximum number of independently specified bits from the original linear code words. A substantial improvement can be achieved in the field of sequential pattern compression using these nonlinear codes. The number of scan chains loaded in parallel can be increased while the number of specified bits is kept. We propose an algorithm that finds the appropriate nonlinear modification circuit structure and verifies the test pattern quality for different numbers of care bits in a test pattern.

Název v anglickém jazyce

Test Compression Using Extended Nonlinear Binary Codes

Popis výsledku anglicky

The linear binary codes can be extended by a relatively high number of nonlinear check bits in such a way that the code words preserve the value of the maximum number of independently specified bits from the original linear code words. A substantial improvement can be achieved in the field of sequential pattern compression using these nonlinear codes. The number of scan chains loaded in parallel can be increased while the number of specified bits is kept. We propose an algorithm that finds the appropriate nonlinear modification circuit structure and verifies the test pattern quality for different numbers of care bits in a test pattern.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

—

Návaznosti

N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)

ISBN

978-153865992-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

255-256

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

—

Místo konání akce

Platja d'Aro, Spain

Datum konání akce

1. 1. 2018

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—