Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Fotoaktivované vlastnosti vrstev TiO2 připravených magnetronovou depozicí

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23520%2F07%3A00000028" target="_blank" >RIV/49777513:23520/07:00000028 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Photoactivated Properties of TiO2 Films Prepared by Magnetron Sputtering

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This article reports on photoactivity of sputtered TiO2 films induced by UV irradiation. TiO2 films were prepared by dc pulsed reactive magnetron sputtering using a dual magnetron operated in bipolar mode and equipped with Ti targets. The photoactivity of TiO2 films, characterized by the water droplet contact angle on the film surface after UV irradiation, was evaluated and discussed in detail. The structure of TiO2 film was measured using X-ray diffraction and surface morphology using AFM. A sharp decrease in WDCA to 10° has been observed for optimal sputtering conditions. Possibility of low-temperature sputtering of photoactive TiO2 films on heat sensitive substrates has been introduced.

  • Název v anglickém jazyce

    Photoactivated Properties of TiO2 Films Prepared by Magnetron Sputtering

  • Popis výsledku anglicky

    This article reports on photoactivity of sputtered TiO2 films induced by UV irradiation. TiO2 films were prepared by dc pulsed reactive magnetron sputtering using a dual magnetron operated in bipolar mode and equipped with Ti targets. The photoactivity of TiO2 films, characterized by the water droplet contact angle on the film surface after UV irradiation, was evaluated and discussed in detail. The structure of TiO2 film was measured using X-ray diffraction and surface morphology using AFM. A sharp decrease in WDCA to 10° has been observed for optimal sputtering conditions. Possibility of low-temperature sputtering of photoactive TiO2 films on heat sensitive substrates has been introduced.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Plasma Processes and Polymers

  • ISSN

    1612-8850

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

  • Číslo periodika v rámci svazku

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus