Mechanism of the film composition formation during magnetron sputtering of WTi.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F01%3A49010112" target="_blank" >RIV/61389005:_____/01:49010112 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Mechanism of the film composition formation during magnetron sputtering of WTi.
Popis výsledku v původním jazyce
The WTi films were deposited by an unbalanced magnetron sputtering of a WTi (70:30 at. %) alloy target. The influence of the working gas (Ar) pressure, substrate bias, and substrate location on the composition of films was studied. The films deposited atlow working gas pressures (<1 Pa) onto electrically floating substrates were largely depleted in Ti while the composition of films deposited at high argon pressure (25 Pa) was close to that of the target. The ion bombardment of the growing film resultedin a decreaseof the Ti content in the films. The composition of the films deposited simultaneously onto a pair of substrates placed at the axis and at the periphery of the target did not depend on the substrate position at both low and high pressure.
Název v anglickém jazyce
Mechanism of the film composition formation during magnetron sputtering of WTi.
Popis výsledku anglicky
The WTi films were deposited by an unbalanced magnetron sputtering of a WTi (70:30 at. %) alloy target. The influence of the working gas (Ar) pressure, substrate bias, and substrate location on the composition of films was studied. The films deposited atlow working gas pressures (<1 Pa) onto electrically floating substrates were largely depleted in Ti while the composition of films deposited at high argon pressure (25 Pa) was close to that of the target. The ion bombardment of the growing film resultedin a decreaseof the Ti content in the films. The composition of the films deposited simultaneously onto a pair of substrates placed at the axis and at the periphery of the target did not depend on the substrate position at both low and high pressure.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Vacuum Science and Technology. A - Vacuum Surfaces and Films
ISSN
0734-2101
e-ISSN
—
Svazek periodika
19
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
13
Strana od-do
2554-2566
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—