Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Studium hloubkového profilu poškození polzmeru PEEK ozářeného ionty

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61389005%3A_____%2F07%3A00091516" target="_blank" >RIV/61389005:_____/07:00091516 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/26722445:_____/07:#0000027

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The thin PEEK film was irradiated by the 2 MeV O+ ions up to the fluence 6-1014 ions/cm2. The depth profiles of the free radicals in the ion-modified PEEK were traced by the Li+ ions incorporated to a damaged area of PEEK by exposing the sample to a 5 mol water solution of LiCl. The depth distributions of the free radicals in the inspected PEEK specimens were found fractioned (for higher fluences) into two distinct parts that followed both electronic and nuclear transfer energy distributions (predictedby the TRIM code). The Li decoration ? TNDP was also applied for the study of the free radical depth profile evolution induced by the thermal processing of the samples in vacuum. The evolution was studied in a broad range of temperatures from RT to the melting point of the polymer. The thermal annealing led to a process of gradual redistribution and annihilation of the free radicals.

  • Název v anglickém jazyce

    Study of damaged depth profiles of ion-irradiated PEEK

  • Popis výsledku anglicky

    The thin PEEK film was irradiated by the 2 MeV O+ ions up to the fluence 6-1014 ions/cm2. The depth profiles of the free radicals in the ion-modified PEEK were traced by the Li+ ions incorporated to a damaged area of PEEK by exposing the sample to a 5 mol water solution of LiCl. The depth distributions of the free radicals in the inspected PEEK specimens were found fractioned (for higher fluences) into two distinct parts that followed both electronic and nuclear transfer energy distributions (predictedby the TRIM code). The Li decoration ? TNDP was also applied for the study of the free radical depth profile evolution induced by the thermal processing of the samples in vacuum. The evolution was studied in a broad range of temperatures from RT to the melting point of the polymer. The thermal annealing led to a process of gradual redistribution and annihilation of the free radicals.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Surface and Coatings Technology

  • ISSN

    0257-8972

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    201

  • Číslo periodika v rámci svazku

    19-20

  • Stát vydavatele periodika

    CH - Švýcarská konfederace

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    8370-8372

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus