Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Nanoindentation-induced phase transformation in silicon thin films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F13%3A33146233" target="_blank" >RIV/61989592:15310/13:33146233 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.586.112" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.586.112</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.586.112" target="_blank" >10.4028/www.scientific.net/KEM.586.112</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Nanoindentation-induced phase transformation in silicon thin films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Nanoindentation-induced phase transformation of amorphous, annealed amorphous and microcrystalline hydrogen-free silicon thin films were studied. Series of nanoindentation experiments were performed with a sharp Berkovich indenter at various unloading rates. The structural changes in indentation deformed regions were examined using Raman spectroscopy. Analyses of indentation curves and Raman spectra suggest that high pressure phases appear more easily in annealed amorphous Si thin films than in microcrystalline ones.

  • Název v anglickém jazyce

    Nanoindentation-induced phase transformation in silicon thin films

  • Popis výsledku anglicky

    Nanoindentation-induced phase transformation of amorphous, annealed amorphous and microcrystalline hydrogen-free silicon thin films were studied. Series of nanoindentation experiments were performed with a sharp Berkovich indenter at various unloading rates. The structural changes in indentation deformed regions were examined using Raman spectroscopy. Analyses of indentation curves and Raman spectra suggest that high pressure phases appear more easily in annealed amorphous Si thin films than in microcrystalline ones.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JL - Únava materiálu a lomová mechanika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Local Mechanical Properties IX

  • ISBN

    978-3-03785-876-9

  • ISSN

    1013-9826

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    112-115

  • Název nakladatele

    Trans Tech Publications Ltd.

  • Místo vydání

    Durnten-Zurich

  • Místo konání akce

    Levoča

  • Datum konání akce

    7. 11. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku