Novodobý pokrok s rentgenovou optikou založenou na Si deskách a skleněných foliích

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985815%3A_____%2F08%3A00321637" target="_blank" >RIV/67985815:_____/08:00321637 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils

Popis výsledku v původním jazyce

We report on recent progress with development of astronomical X-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimized parameters. Recentefforts with Si wafers have been focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement.

Název v anglickém jazyce

Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils

Popis výsledku anglicky

We report on recent progress with development of astronomical X-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimized parameters. Recentefforts with Si wafers have been focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Recent progress with x-ray optics based on Si wafers and glass foils

ISBN

—

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

—

Název nakladatele

International Society for Optical Engineering

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Marseille

Datum konání akce

23. 6. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

259563700034