Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00163008" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00163008 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/67985815:_____/09:00337793 RIV/68407700:21340/09:00163008

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass

Popis výsledku v původním jazyce

We report on the continuation of the development of test samples of astronomical x-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimizedparameters including viscosity and internal stress analyses, as well as investigation of mounting influences. Experiments with Si wafers focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement.

Název v anglickém jazyce

Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass

Popis výsledku anglicky

We report on the continuation of the development of test samples of astronomical x-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimizedparameters including viscosity and internal stress analyses, as well as investigation of mounting influences. Experiments with Si wafers focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV

ISBN

978-0-8194-7727-9

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

San Diego, California

Datum konání akce

2. 8. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—