Back-up technologies for IXO

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00162913" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00162913 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/67985815:_____/09:00339146 RIV/68407700:21340/09:00162913

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Back-up technologies for IXO

Popis výsledku v původním jazyce

We report on recent progress with development of astronomical X-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimized parameters. Recentefforts with Si wafers have been focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement. The role of substrates quality in performance of final mirror arrays, as required by large future space X-ray astronomy experiments was also studied.

Název v anglickém jazyce

Back-up technologies for IXO

Popis výsledku anglicky

We report on recent progress with development of astronomical X-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers. Experiments with thermal glass forming have continued adding wider range of evaluated and optimized parameters. Recentefforts with Si wafers have been focused on their quality improvements such as flatness and thickness uniformity in order to better meet the requirements of future X-ray astronomy projects applications, as well as on study of their surface quality, defects analysis, and methods for its reproducible measurement. The role of substrates quality in performance of final mirror arrays, as required by large future space X-ray astronomy experiments was also studied.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space

ISBN

978-0-8194-7634-0

ISSN

0277-786X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

20. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—